随着工业生产日益复杂和产品标准不断提高,部件的质量控制和生产速度变得越来越重要。对于实验室和质量管理负责人而言,往往需要在技术人员较少、时间有限的情况下提供分析结果。目前,标准的行业解决方案是将用于获取结构信息的扫描电子显微镜（SEM）与能量色散 X 射线光谱（EDS）探测器相结合,进行样品的化学元素分析表征。

EDS 提供的元素信息可以给质量分析提供指导方向,然而将扫描电镜（SEM）与 EDS 割裂为两个独立的设备会导致用户体验不够友好。比如：需要不断地在高低倍数间切换来完成样品寻找和成像；需要在两个系统间不断进行数据同步和关联；独立的硬件和软件需求会导致兼容性问题和维护困难；数据分析可能会很麻烦并且需要很长时间；操作人员需要更长时间的专门培训。

飞纳电镜推出的 ChemiSEM 技术,将扫描电镜（SEM）形貌观察与 EDS 成分分析相结合,让工作流程更加流畅,简化了许多材料（包括金属、陶瓷、电池、涂层、水泥和软物质材料等）的分析流程：通过彩色元素分布图与扫描电镜（SEM）图像的实时叠加,在成像同时提供高质量的成分定性定量信息。

ChemiSEM 分析技术在易用性、便利性和速度上的提升,可以更快、更轻松地提供元素信息,降低每个样品分析测试的成本,更好地服务于质量分析过程。

对于您的实验室

ChemiSEM 提供了一个简单易行的解决方案,易于安装和使用,始终处于开启状态,并且能够在最少的训练和培训下提供可靠的结果。

对于您的团队

ChemiSEM 延长了设备有效机时,增加了样品吞吐量,从而提高了材料分析的质量和数量。

PART.01 实时分析获取更深层的信息

所有的 SEM-EDS 分析本质上都是复杂的,对于产品故障分析和污染物识别等应用,研发需要不断改进质量控制（QC）和故障分析（FA）流程,以更好地解决出现的问题。

ChemiSEM 技术的实时分析在质量控制和生产效率提升方面提供了优势。它的 EDS 集成在仪器中,并在电镜工作时始终在后台收集成分数据,逐步建立样品更全面和详细的信息,帮助您更快地定位到关键质量问题

PART.02 实时定量面扫：不再有分析干扰

传统的元素分析中,复杂样品元素分布和相分布面扫并不能及时得到精确的结果。例如,一个峰的信号有时会被识别为两个元素,产生错误,干扰样品QC 问题的判断。

凭借创新的算法和智能光谱拟合,ChemiSEM 技术可以帮助您的实验室团队实现准确的元素识别和量化——即使在处理多个重叠元素时也是如此。

ChemiSEM 定量面扫

ChemiSEM 技术自动处理原始信号,生成定量面扫结果。数据被很好地解析,能够有效避免和峰和重叠峰的影响。并且同时处理 BSE（背散射电子）和 EDS 信号,从而可以实时显示样品的形态和元素定量结果。

PART.03 无偏差相分析

传统的相分析高度依赖于对样品的假设,当存在谱峰重叠或强度不足而遗漏了元素时,这可能会是一个问题。

有了 ChemiPhase（ChemiSEM 技术中的一项新功能）后,可以避免这种情况。复杂样品的分析能够做到无偏差,可以基于数据单元中所有光谱结果,系统地识别每个独立的相。随后,数据分析可以在没有任何元素预定义的情况下自动运行,无需丰富经验即可定位次要/微量元素,明确识别主要和次要成分,完成更深入、更全面的分析。

地质切片分析

使用 ChemiPhase 对地质切片的分析,每个相的能谱成分被自动提取和计算,可以将不同矿物相有效区分。

PART.04 自动样品漂移校正

成分分析过程中,准确和有效的定量结果需要一个正确且稳定的样品位置信息。

通常在图像漂移的情况下,研究人员需要多次重新获取分析数据,或者等待样品停止漂移后再获取数据,这两种方式都会降低测试效率。

通过不断监控样品位置,ChemiSEM 软件提供自动样品漂移校正,使高倍率操作和较长时间的能谱采集成为可能。帮助大家节省宝贵的时间和精力,专注于更重要的事情：尽快获取最高质量的数据。

简而言之,ChemiSEM 技术提供高质量的分析结果。它在大量的操作参数范围内进行了优化,即使在存在多个重叠峰的情况下也能提供可靠的数据结果。智能光谱拟合根据精确的参数设置自动验证元素,为获得的结果提供保证。