薄膜测厚仪

TST-10薄膜测厚仪主要用于薄膜、电池隔膜、太阳能电池硅片、纸张、胶带等硬质和软质材料厚度精确测量。是一款超高测试精度的全自动测厚仪,测厚仪被广泛应用于质检机构、薄膜生产厂家、光伏厂等单位。

薄膜测厚仪技术特点

1、专业——在不断的创新研发和技术积累中推陈出新,使用超高精度的位移传感器、科学的结构布局及专业的控制技术,实现先进的测试稳定性、重复性及精度。

2、高效——采用高效率、自动化结构设计,有效简化人员参与过程；智能的控制及数据处理功能,为用户提供更便捷可靠的试验操作和结果处理。

3、智能——新一代控制分析软件,具有友好的操作界面、智能的数据处理、严格的人员权限管理和安全的数据存储；为用户提供极为安全可靠的测试数据和测试报告管理功能。

技术参数

测试范围（标配）：0～10mm

分辨率：0.1μm

重复性：0.8μm

测量范围（选配）：0～6、0～12mm

测量间距：0～1000mm（可设定）

进样速度：1.5～80mm/s（可设定）

附加功能：

自动进样机：可选配置

测量方式：机械接触式

测量压力及接触面积：

薄膜：17.5±1 kPa、50 mm2

纸张：100±1 kPa(标准配置) / 50±1 kPa（可选配置）、200 mm2

电源：220-240VAC 50Hz/120VAC 60Hz

外形尺寸：370mm（L）× 350mm（W）× 410mm（H）

净重：26kg

执行标准

本仪器符合多项国家标准

ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702中国《药品生产质量管理规范》（GMP）对软件的有关要求（可选配置）

薄膜测厚仪TST-10