集成矿物分析仪 TIMA-X FEG（LM）

背散射电子图像分辨率：2.0nm@15keV二次电子图象分辨率：1.2nm@30keV加速电压：0.2~30kV放大倍数：1~1,000,000x仪器简介：TIMA3LMU/LMHFEG是一款基于场发射扫描电子显微镜设计的集成式矿物分析专家,适用于采矿和矿物处理行业的应用

背散射电子图像分辨率： 2.0nm @ 15keV
二次电子图象分辨率： 1.2nm @ 30keV
加速电压： 0.2~30 kV
放大倍数： 1~1,000,000 x

仪器简介：
TIMA3 LMU/LMH FEG是一款基于场发射扫描电子显微镜设计的集成式矿物分析专家,适用于采矿和矿物处理行业的应用。TESCAN的技术是基于一个集成的EDX系统,能以非常快的速度执行全谱扫描,可用于矿石特性检测、工艺优化、修复技术和贵金属与稀土的寻找。SEM和EDX硬件的集成水平实现了以的采集速度自动化的数据采集,并得到快速、准确和可靠的结果。

最重要的特性：
通过高水平的SEM和EDX硬件集成实现了快速、自动化的数据采集；
基于MIRA SEM平台；
新设计的样品台集成了BSE/EDX校正标准和法拉第杯；
根据客户的需求更改样品的尺寸；
最多集成4个EDX探测器确保系统的性能；
新的Peltier冷却型EDX探测器确保热稳定性；
改进的方法使数据分析既快又可靠；
根据样品的每个部分可调整扫描和EDX分析的时间；
离线数据处理；
各种各样的数据分析模块；
可自定义的分类规则；
可定制的解决方案。

TESCAN集成式矿物分析仪（TIMA）是一款新型的自动矿物分析的扫描电子显微镜,适用于采矿和矿物加工行业。TIMA可以对块状、薄片或抛光切片样品进行自动矿产丰度分析、粒度解离分析、矿物组合分析和颗粒尺寸分析。
TIMA的应用范围很宽,包括矿石性质、工艺优化、修复、贵金属和稀土的寻找等。TESCAN的技术是基于一个集成的EDX系统执行快速的全光谱扫描。 SEM与EDX硬件的一体化技术提供了的数据采集速度,进而得到快速、准确和可靠的结果。
TIMA硬件
TESCAN TIMA基于MIRA肖特基场发射或者VEGA钨灯丝扫描电子显微镜。MIRA镜筒的特殊设计（电子枪的恒真空与隔绝阀）提高了发射的稳定性和钨灯丝的使用寿命。该系统提供高真空模式为标准,低真空模式为选配。
大样品室、由计算机控制的超快样品台、矿物样品支持器的特殊设计。样品台可以同时容纳7块直径为30mm的样品。样品台内可放入直径25 mm至32 mm的样品。样品台有EDX/BSE校准标准、铂Faraday筒（BSE信号校准）与锰、 铜、 石英、碳和金元素（系统性能检查）。标准校准的元素可以根据客户要求定制。

配件：
二次电子探头
背散射电子探头
探针电流测量
压差式防碰撞报警装置
可观察样品室内部的红外线摄像头等,各种配件可供选择