组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列

组合式多功能X射线衍射仪UltimaIV系列仪器简介：组合式多功能X射线衍射仪UltimaIV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪,它采用了理学的CBO交叉光学系统,一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试

组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列

仪器简介：

组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列是一种高性能多功能的粉晶X射线衍射仪,它采用了理学的CBO交叉光学系统,一台仪器可以进行从普通粉末样品到包括In-Plane在内的薄膜样品测试。采用组合式结构,通过对各个单元的不同组合,可以进行各种测试。

技术参数

1.X射线发生器功率为3KW
2.测角仪为水平测角仪
3.测角仪最小步进为1/10000度
4.测角仪配程序式可变狭缝
5.高反射效率的石墨单色器
6.CBO交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学）
7.小角散射测试组件
8.多用途薄膜测试组件
9.微区测试组件
10.In-Plane测试组件（理学）
11.高速探测器D/teX-Ultra
12.X射线衍射-差示扫描量热仪同时测量装置 XRD-DSC
13.分析软件包括：XRD分析软件包、NANO-Solver软件包、GXRR软件包等

主要特点：

组合式多功能X射线衍射仪Ultima IV系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。
可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品
主要的应用有：
1.粉末样品的物相定性与定量分析
2.计算结晶化度、晶粒大小
3.确定晶系、晶粒大小与畸变
4.Rietveld结构分析
5.薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度
6.In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7.小角散射与纳米材料粒径分布
8.微区样品的分析