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两箱式冷热冲击试验箱(高低温冲击试验箱)

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更新时间:2024-01-26 11:54:40浏览次数:170

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产品简介

两箱式冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱两箱式冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱--产品用途两箱式冷热冲击试验机为两箱式动态冲击,可作冷热冲击试验,也可以做单独高温或单独低温使用

详细介绍

两箱式冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱

两箱式冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱--产品用途

两箱式冷热冲击试验机为两箱式动态冲击,可作冷热冲击试验,也可以做单独高温或单独低温使用。广泛使用于航空航天、 单位、电工电子、仪器仪表、材料设备、零部配件等模拟试件在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的安 全性测提供可靠性试验,产品筛选等,同时可通过此试验,进行产品的质量控制。

两箱式冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱--性能特点

制冷过程不加热控制,节省能源30%以上

自动冲击温度自动未卜偿系统,温度冲击不过冲

样品检验前应力消除控制系统

快速除霜控制系统,除霜时间小于60分钟

独立运饲氐温,高温模式,一机三用

的故障自诊断提示功能

自主研猊5代7,真彩控制系统,成熟稳定可靠

三重强势的安全保护系统,确保样品安全

两箱式提篮结构,模拟环境

两箱式冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱--符合标准

GB/T10589-2008低温试验箱技术条件

GB/T 11158-2008高温试验箱技术条件

GB/T2423.1-2008/IEC 60068-2-12007电工电子产品环境试验2部分:试验方法 试验A:低温

GB/T2423.2-2008/IEC 60068-2-22007电工电子产品环境试验2部分:试验方法 试验B:高温

GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-142009环境试验2部分:试验方法 试验N:温度变化

GJB 150.5A-2009装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验

两箱式冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱--规格与技术参数

型号

STJ-PTH-60L

STJ-PTH-100L

STJ-PTH-300L

工作室尺寸(W*H*L)mm

450*400*340

500*450*450

600*750*700

外型尺寸(W*H*L)mm

900*1450*1050

1130*1750*1100

1300*1850*1300

提篮尺寸(W*H*L)mm

350*400*300

400*350*350

500*650*600

性能
指标

温度范围

-40℃~+150℃/-55℃~+150℃/-65℃~+150℃

温度均匀性

≤2.0

温度波动

≤0.5℃

使用环境温度

+5℃~35℃

电源

AC380V50Hz

升温时间(高温区

+25~+190℃ 35分钟以内

降温时间低温区

RT~-55℃/ RT~-65℃/ RT~-75℃ 约70分钟

样品区承重

100KG

100KG

100KG

控制
系统

控制器

进口触摸式(P、I、D +S、S、R.)微电脑集成控制器

精度范围

设定精度:温度±0.1℃,指示精度:温度±0.1℃,解析度:±0.1℃

制冷系统

机械压缩式复叠制冷系统全封闭或半封闭式压缩机

循环系统

单循环,低噪音离心风机

温度转换时间

从低温区到高温区或从高温区到低温区≤15S

温度恢复时间

≤5min(与温度恢复条件有关,既冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关)

温度冲击方法

垂直二箱法或水平二厢法


☆上述指标在室温为+23℃时,温湿度性能测试按照国家标准JJF1101-20003相关条款检定。


两箱式冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱

两箱式冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱--产品用途

两箱式冷热冲击试验机为两箱式动态冲击,可作冷热冲击试验,也可以做单独高温或单独低温使用。广泛使用于航空航天、 单位、电工电子、仪器仪表、材料设备、零部配件等模拟试件在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的安 全性测提供可靠性试验,产品筛选等,同时可通过此试验,进行产品的质量控制。

两箱式冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱--性能特点

制冷过程不加热控制,节省能源30%以上

自动冲击温度自动未卜偿系统,温度冲击不过冲

样品检验前应力消除控制系统

快速除霜控制系统,除霜时间小于60分钟

独立运饲氐温,高温模式,一机三用

的故障自诊断提示功能

自主研猊5代7,真彩控制系统,成熟稳定可靠

三重强势的安全保护系统,确保样品安全

两箱式提篮结构,模拟环境

两箱式冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱--符合标准

GB/T10589-2008低温试验箱技术条件

GB/T 11158-2008高温试验箱技术条件

GB/T2423.1-2008/IEC 60068-2-12007电工电子产品环境试验2部分:试验方法 试验A:低温

GB/T2423.2-2008/IEC 60068-2-22007电工电子产品环境试验2部分:试验方法 试验B:高温

GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-142009环境试验2部分:试验方法 试验N:温度变化

GJB 150.5A-2009装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验

两箱式冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱--规格与技术参数

型号

STJ-PTH-60L

STJ-PTH-100L

STJ-PTH-300L

工作室尺寸(W*H*L)mm

450*400*340

500*450*450

600*750*700

外型尺寸(W*H*L)mm

900*1450*1050

1130*1750*1100

1300*1850*1300

提篮尺寸(W*H*L)mm

350*400*300

400*350*350

500*650*600

性能
指标

温度范围

-40℃~+150℃/-55℃~+150℃/-65℃~+150℃

温度均匀性

≤2.0

温度波动

≤0.5℃

使用环境温度

+5℃~35℃

电源

AC380V50Hz

升温时间(高温区

+25~+190℃ 35分钟以内

降温时间低温区

RT~-55℃/ RT~-65℃/ RT~-75℃ 约70分钟

样品区承重

100KG

100KG

100KG

控制
系统

控制器

进口触摸式(P、I、D +S、S、R.)微电脑集成控制器

精度范围

设定精度:温度±0.1℃,指示精度:温度±0.1℃,解析度:±0.1℃

制冷系统

机械压缩式复叠制冷系统全封闭或半封闭式压缩机

循环系统

单循环,低噪音离心风机

温度转换时间

从低温区到高温区或从高温区到低温区≤15S

温度恢复时间

≤5min(与温度恢复条件有关,既冷却水温、暴露温差、恒温时间、样品重量有关)

温度冲击方法

垂直二箱法或水平二厢法


☆上述指标在室温为+23℃时,温湿度性能测试按照国家标准JJF1101-20003相关条款检定。

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