BXR-626镀层测厚仪

BXR-626系列X荧光镀层测厚仪采用X荧光分析技术,可以测定各种金属镀层的厚度,包括单层、双层、多层及合金镀层等,可以进行电镀液的成分浓度测定。它能检测出常见金属镀层厚度,无需样品预处理；分析时间短,仅为数十秒,即可分析出各金属镀层的厚度；分析测量动态范围宽,可从0.005μm到60μm。

•仪器外观选用流线型设计,时尚雅致	•同时分析元素周期表中由硫(S)到铀（U）
•可以分析5层镀层,一次可分析元素多达24种	•无需复杂的样品预处理过程,无损测试
•检出限可达到2ppm	•分析测量动态范围宽,可从0.005μm到60μm
•采用*的探测器,能量分辨率高	•采用*的AMP,处理速度快,精度高,稳定可靠
•X光管采用正高压激发,激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示	•采用彩色摄像头,准确观察拍摄样品
•采用电动无极控制样品平台,可以进行X-Y-Z的移动,准确方便	•采用双激光对焦系统,准确定位测量位置
•高度传感器	•保护传感器,有效保护探测器
•稳定性好,故障率低	•隐蔽式设计、软件、硬件三重射线防护系统多层屏蔽保护

1.X-Y-Z样品平台移动装置
BXR-626系列X荧光镀层测厚仪的X-Y-Z样品平台采用电动移动装置,具有可容纳各种形状的镀层样品及电镀液体样品的大样品室。使用简单方便。

2.X射线管激发系统
激发系统采用正置直角光学结构设计。高电压发生器：电压与电流采用软件自动数码控制及显示。功率50 W。电压0 -50 KV,电流0-1000uA。8小时稳定性≤0.05%。长寿命X光管：采用低功率﹑自然冷却﹑高寿命、*水平的X光管,指标达到*水平。功率50W,管压5-50KV ；管流电流0-1000uA。

3.高分辨率的探测器系统
进口原装电制冷探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较高的峰背比。分辨率能达到149eV±5ev。

4.能谱仪电子学系统
前置放大器及放大器等信号处理器：适应高计数率,高抗力的一体化电子线路。模数转换器采用高精度的2048道。

5.计算机分析系统
品牌计算机；高分辨率彩色液晶显示器。喷墨打印机。

6.系统软件
XRF分析软件,融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、理论α系数法等多种经典分析方法,全面保证：单层、双层、多层、合金镀层测试数据的准确性。

7.电源
AC 220V～240V、50Hz 。额定功率：120W。选配高精度参数稳压电源。

塑料制品工业镀层、电子材料镀层（接插件、半导体、线路板、电容器等）、钢铁材料镀层（铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等）、有色金属材料镀层（铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等）、 其它各种镀层厚度的测量及成分分析。