详细介绍
自1978年以来取得傲人销量的X射线荧光镀层厚度测量仪的第八代产品FT110A,在测量精度、操作性能、软件上有新的优化。
通过自动定位功能,只需把样品放在样品台上,便能在数秒内自动对准观察样品焦点,省略了以前手动逐次对焦的操作,大幅提高了测量效果。
·参数规格：
型号名称：FT-110A
测量元素：原子序数22（Ti）~83（Bi）
检测器：比例计数管
X射线管：管电压：50kV 管电流：1mA
准直器：4种（Φ0.05mm、Φ0.1mm、Φ0.2mm、Φ0.025×0.4mm）
样品观察：CCD摄像头（可进行广域观察）
X-Ray Station：电脑、19英寸液晶显示器
膜厚测量软件：薄膜EP法、标准曲线法
测量功能：自动测量、中心搜索
定性功能：KL标记、比较表示
使用电源：220V/7.5A
·产品特点：
1.自动对焦功能自动接近功能
在样品台上放置各种高度的样品时,只要高低差在80mm范围内,即可在3秒内自动对焦被测样品。由此进一步提高定位操作的便捷性。
●自动对焦功能简便的摄像头对焦
●自动接近功能位置的对焦
2.通过新薄膜FP法提高测量精度
实现微小光束的高灵敏度,通过微小准直器提高了膜厚测量精度。镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2。另外,针对检测器的特性开发了新的EP法,可进行无标样测量。测量结果可一键生成报告书,简单方便。
●新薄膜EP法
减少检量线制作的繁琐程度、实现了设定测量条件的简易化
无标样测量方法可进行最多5层的膜厚测量
●自动对焦功能和距离修正功能
凹凸落差的样品可通过薄膜EP法做成的相同测定条件进行测量
●灵敏度提高
镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2
●生成报告功能
一键生成测量报告书
3.广域样品观察
对测量平台（250mm*200mm）上放置的样品拍摄一张静态画面后,可在获取的广域观察图像上狭域的观察位置。由此,可大幅减少多数测量点位置的选取时间,以及在图像上难以寻找的特定点位置的选定时间。
●广域图像观察
轻松定位
