详细介绍
特点
1.环境控制功能(大气,真空,液体,温控等)
AFM5300E能够实现高真空的测试环境,限度减小样品表面吸附水对测试的影响,实现精确的物理特性测量。 真空环境下可以实现更大范围的温度控制。
(3857581号、3926638号)
• 大气中 • 液体中 • 真空中 • 特殊气氛(流量控制)
• 温度控制 加热・冷却(-120~300℃) 高温(室温~800℃)
• 湿度控制(0~80%)
2.简便操作(综合型Holder Flange)
通过采用『综合型Holder Flange开合功能』,样品和扫描器更換更为方便的同时,免去了以往环境型SPM的样品更換后的所需的光轴调整。 也省去测试模式切换时的支架更換环节。
3.的高性能
采用了『Swing Cancel功能』,减轻了样品的浮动,降低了漂移。提高了纳米分析性能,提升了可信度。
4.通过减轻表面吸附水的影响,提高了电气性能的检测精度
真空环境下减轻样品表面吸附的水分和污染物的影响,因而实现高分辨高灵敏的电学性能分析。
规格
分辨率 | 原子相 |
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样品尺寸 | 20 mmφ、厚度10 mm (用配件厚度扩展至20 mm) |
样品移动范围 | X-Y stage 5 mm |
扫描范围 | 标准: 20 µm□/1.5 µmH • 150 µm□/5 µmH • 15 µm□/1.5 µmH(闭环差控制) 定位显微镜 • 简易显微镜(×200倍) • 光学显微镜(×1000倍) • 变焦显微镜(×700倍) • 金相显微镜(装有微分干渉)(×2000倍) |
检测功能 |
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选配件 | 高温加热样品台 加热冷却兼用样品台 冷却真空 温度控制 |