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详细介绍
产品介绍：
XAD系列X荧光光谱仪是一款全元素上照式光谱仪,可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚,也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析,*的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。
性能优势：
1.微小样品检测：最小测量面积0.0085mm²
2.变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-90mm
3.核心EFP算法：Al(13)-U(92)元素的成分分析,Li(3)-U(92)元素的涂镀层检测,多层多元素,甚至有同种元素在不同层也可精准测量
4.*的解谱技术：减少能量相近元素的干扰,降低检出限
5.高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积50mm²探测器
6.X射线装置：微焦加强型射线管搭配聚焦装置
7.上照式设计：实现对超大样品或者密集点位进行快、准、稳高效率测量
8.大行程移动平台：手动XY滑台100*150mm,自动XY平台210*260mm
应用领域：
涂镀层分析-RoHS检测-地矿全元素分析-合金、贵金属检测
XAD系列X荧光光谱仪是一款全元素上照式光谱仪,可测量纳米级厚度、微小样品和凹槽异形件的膜厚,也可满足微区RoHS检测及多元素成分分析,*的算法及解谱技术解决了诸多业界难题。
性能优势：
1.微小样品检测：最小测量面积0.0085mm²
2.变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-90mm
3.核心EFP算法：Al(13)-U(92)元素的成分分析,Li(3)-U(92)元素的涂镀层检测,多层多元素,甚至有同种元素在不同层也可精准测量
4.*的解谱技术：减少能量相近元素的干扰,降低检出限
5.高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积50mm²探测器
6.X射线装置：微焦加强型射线管搭配聚焦装置
7.上照式设计：实现对超大样品或者密集点位进行快、准、稳高效率测量
8.大行程移动平台：手动XY滑台100*150mm,自动XY平台210*260mm
应用领域：
涂镀层分析-RoHS检测-地矿全元素分析-合金、贵金属检测
一般情况下：
划线价格：划线的价格可能是商品的销售指导价或该商品的曾经展示过的销售价等,并非原价,仅供参考。
未划线价格：未划线的价格是商品在阿里巴巴中国站上的销售标价,具体的成交价格根据商品参加活动,或因用户使用优惠券等发生变化,最终以订单结算页价格为准。
活动预热状态下：
划线价格：划线的价格是商品在目前活动预热状态下的销售标价,并非原价,具体的成交价可能因用户使用优惠券等发生变化,最终以订单结算页价格为准。
未划线价格：未划线的价格可能是商品即将参加活动的活动价,仅供参考,具体活动时的成交价可能因用户使用优惠券等发生变化,最终以活动是订单结算页价格为准。
伙拼折上折活动状态下：
该商品（部分规格除外）在伙拼折上折活动期间内,买家可享受伙拼折上折活动优惠价格（该价格较同时期伙拼日常活动价格更优惠）。
*注：前述说明仅当出现价格比较时有效。若商家单独对划线价格进行说明的,以商家的表述为准。
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