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HY5460H系列高低温快速冲击试验箱

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更新时间:2023-03-28 10:17:16浏览次数:207

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产品简介

测试应用及原理HY5460H系列高低温快速冲击试验箱是根据用户要求设计制造,广泛用于航空、航天、电子、IT行业、仪器仪表、电工产品等模拟产品在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的安全性测试提供可靠性试验、产品筛选等

详细介绍

测试应用及原理

HY5460H系列高低温快速冲击试验箱是根据用户要求设计制造,广泛用于航空、航天、电子、IT行业、仪器仪表、电工产品等模拟产品在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的安全性测试提供可靠性试验、产品筛选等。

测试标准

《1》GB2423.22-2012试验Na环境试验 第2部分 试验方法 试验N:温度变化;

《2》GJB150.5A-2009装备实验室环境试验方法 第5部分:温度冲击试验;

《3》MIL-STD-810D-503.2美国装备实验室环境试验方法 温度冲击试验。


产品特点

由高温室、低温室、在两个室中移动的测试样品提篮及制冷系统、加热系统和控制系统等组成。

样品快速放入预先降温的低温室或预先加热的高温室,因此变温速度快

结构紧凑,体积小

该试验箱既可作冲击试验箱使用又可作单独的高温箱低温箱使用。

该试验箱采用进口配置、技术原理*可靠、噪音与节能得到控制。


技术参数

仪器型号

HY5460-150

HY5460-300

HY5460-500

HY5460-1000

工作室尺寸(D×W×H)mm

500×600×500

600×700×700

750×800×800

1000×1000×1000

提篮尺寸

(D×W×H) mm

300×450×300

450×550×500

600×650×600

800×800×800

外形尺寸 (D×W×H) mm

1100×2000×1800

1100×2000×1800

1600×2800×2000

1600×2800×2000

样架承重(KG)

7.5KG

12KG

20KG

30KG

冲击温度范围

-20℃、-40℃、-50℃、-60℃~100℃ (+150℃) 客户任选

高温箱温度范围

RT~+150℃

低温箱温度范围

-60℃~RT

温度波动度

±0.5℃  (恒定状态时)

温度均匀度

≤±2℃  (提篮室内,恒定状态时,中心水平五点测试)

低温箱降温时间

+20℃至-60℃≤65min(单独运行时)

高温箱升温时间

+20℃至+150℃≤50min(单独运行时)

温度恢复时间

≤5min(-25℃~ +125℃范围内,负载5KG钢锭)

样品转换时间

5~15秒(可调)

装机功率

12KW

电源电压

AC380V/50HZ三相四线制


产品配置

NO

实 物 名 称

数  量

1

HY5460H高低温快速冲击试验箱主机

壹  台

2

产品装箱单

壹  份

3

产品说明书

壹  份

4

产品合格证

壹  份


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