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紫外可见分光光度计UV762

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更新时间:2023-12-09 16:07:17浏览次数:133

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产品简介

功能特点:关键元件采用进口元件,全新的光学系统设计,使仪器的主机具有优良的光学性能和测光性能,杂散光低,测光度和稳定可靠性高。真正的双光束测光系统,配合的电路测控系统,使仪器具有较高的可靠性和极低的噪声。的氘灯和钨灯安装,光源自动切换及自动寻找位置的设计和工作方式,使用户操作仪器和维修替换光源更为方便、正确和安全.采用大屏幕中文窗口(LED)液晶屏显示,具有良好的人机对话界面.优良的软......

详细介绍

产品介绍

功能特点:
关键元件采用进口元件,全新的光学系统设计,使仪器的主机具有优良的光学性能和测光性能,杂散光低,测光度和稳定可靠性高。
真正的双光束测光系统,配合的电路测控系统,使仪器具有较高的可靠性和极低的噪声。
的氘灯和钨灯安装,光源自动切换及自动寻找位置的设计和工作方式,使用户操作仪器和维修替换光源更为方便、正确和安全.
采用大屏幕中文窗口(LED)液晶屏显示,具有良好的人机对话界面.
优良的软件设计和编制,使仪器有较强光谱数据处理功能:自动扫描测量光谱, 多波长( 1-3λ) 测定、动力学测定、1-3次曲线拟合、1-4阶导数光谱、存取显示打印光谱图和分析数据。
基于Windows 平台开发的强大软件,界面友好,功能强大,方便您的存储输出,方便办公,节省费用。

双光束紫外可见分光光度计UV762性能指标:波长范围:190nm~1100nm
光谱带宽:2nm
波长准确度:≤±0.3nm(开机自动校正)
波长重复性:≤0.2nm
透射比准确度:±0.3%(T)
透射比重复性:0.2%(T)
透射比测量范围:0~200%T
吸光度测量范围:-0.301~3.000A
杂光:≤0.15%(在220nm处,以NAI测定)
漂移:≤0.002A/H (500nm处)
噪声:线噪声≤0.15%T;0%线噪声≤0.1%T
扫描速度:快 中 慢


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