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详细介绍
奥本精密KOSAKALABSE300
小坂研究社SE300是一款*新的体积小、携带方便的表面粗糙度测量仪。被广泛应用于工 厂车间,实验室以及计量单位。可对多种零件表面的粗糙度、波纹度以及原始轮廓进行多参 数评定。是一款带专用控制器的高精度、高性能、袖珍型表面粗糙度测量仪。操作简单,显 示一目了然。
特点：
*配备有符合*新ISO,DIN,ANSI和JIS标准的40多种粗糙度评价参数。
*宽范围、高分辨率的检测器和直接驱动组件。提供了在同类产品中更*的高精度测量。
（测量范围/分辨率）
800um/0.0064um
(移动长度/真直度)
25mm/0.5um
*超低测量力0.7mN有效的避免物体表面的划痕。
*测量数据可通过RS-232接口电缆由外部PC输入。
*带有粗糙度校正标准片。
*配备高可见度的TFT-LCD屏幕,彩**标显示,触控式面板,显示更清晰,操作更简易。
*亦可根据需求任意组合,更方便测量。
标准配置：
l检出器：PU-A6
lDriverUint:DR-25X11
l放大演算装置：AS-300
l校正标准片：SS-N
l触针：AA2-60
lNose PieceANA
l记录纸
（可任意选配）
主要技术参数：
1,测定参数
Ra,Ra,Rt,Rp,Rv,Rsm,Rq,Rsk,Rku,Rmr(c),Rmr,Rδc,R△q,Rc,Ry,Rmax,Rpm,Rk,Rvk,Rpk, Pa, Pa, Pt,Pp, Pv, Psm,Pq, Psk, Pku,Pmr(c),Pmr,Pδc, P△q, Pc, PPI
Wa,Wz,Wt,Wp,Wq,Wmr©,Wsm,WCA,WCM,Sm,S,tp,Htp,△q,△a,HSC,
λa,λq,Mr1,Mr2,A1,A2,Rz,Pz,Wv,W.profile,BAC,ADC,Rprofile,Pprofile.
2,适用规范:JIS B0601-2001/ ISO4287-1997(filterGauss)R,P,Wmode
JIS B0601-1994(FilterGauss) JIS B0601-1982(Filter2RC) JIS B0601-1987(Filter2RC)
ASMEB46.11-1995(FilterGauss/2RC) DIN4776(Filter特殊Gauss)
3,测定范围：Z :800umX:25mmZ分解能：0.0064um
检出器手动上下范围：33mm
4,测定倍率：X：100,200,500,1000,2000,5000,10000,20000,50000,100000,自动.
Y：1,2,5,10,20,50,100,200,500,1000,25mm/λc,50mm/λc
5,Cut-off值：粗度：λc0.08,0.25,0.8,2.5,R+W,λs
波纹度：λc-λf/fh-fl:0.08~0.8, 0.25~2.5 , 0.8~8.0mm
6,滤波器：高斯,2RC,特殊高斯
7,Levering：全局,前半部,后半部,2点,曲面
8,测定长度：评价长度方式：λcX1~X9,任意(max:25mm)JIS(82)modeR+W:0.08~25mm
其他:0.08~(λcX9)mm,*大25mm
9,量测速度：0.2,0.5mm/s
10,返回速度：0.2,0.5,1.0mm/s
11,屏幕：320x240,彩色液晶,Touchpanel
12,列表机：8dot/mm热感纸打印方式,纸宽58mm
13,测试条件储存：USB记忆卡(适用8GB以下)
14,数据外部输出:RS-232
15,统计处理：平均值,*大值,*小值,标准偏差(n-1)
16,真直度测定精度：0.5um/25mm
17,检出器：Stylus:R2um钻石,测定力0.75mN,顶角60°(可拆换式触针)
18,电源：单相AC100~240V,50/60Hz
19,DriverUnit尺寸重量:163X66X102mm/约0.7kg
20,放大器尺寸:160X235X85mm
进口小坂研究所粗糙度仪便携式粗糙度仪
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