EPK公司GalvanoTest 2000库伦测厚仪

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EPK公司GalvanoTest 2000库伦测厚仪

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EPK公司GalvanoTest 2000库伦测厚仪

德国EPK (Elektrophysik)公司GalvanoTest 2000库伦测厚仪利用库仑电量分析原理,测量镀层、多层镀层厚度。德国EPK(Elektrophysik)公司库仑镀层测厚仪GalvanoTest 2000,应用库仑电量分析原理。其过程类似于电镀,但电化学反应的方向相反,是电解除镀。可以用于测量几乎所有基体上的电镀层厚度。基体包括钢铁、有色金属以及绝缘材料。例如铁上镊、铁上锌、铜上银、环氧树脂上的铜等。测量时只需去除几乎看不到的一小块面积的镀层金属,而基体不受影响。

特点：
可以测量70种以上镀层/基体组合

可以测量平面、曲面上的镀层

可以测量小零件、导线、

用户可另设置1种金属的测量参数

预置9种金属的测量参数：Cr铬、Ni镍、Cu铜、黄铜、Zn锌、Ag银、Sn 锡、Pb铅、Cd镉。

测量电池电压曲线
特性测量电池电压曲线的打印图形地表示在测量结束时其典型的电压跳跃的测量过程。 电压跳变终止测量,厚度自动显示为微米或密耳。 去镀区域的尺寸去镀区域的尺寸可以使用随附的垫圈或面罩定界。 下图显示了使用D-mask（0,25平方毫米）时划分的测量区域的实际脱镀面积大小以及微观视图。

存储功能

可存储不同金属测量参数的数目

可存储2000个读数和统计值

仪器断电后可保持所有校准值、读数、统计值。