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LQ-TS-50

LQ-TS-80

LQ-TS-150

LQ-TS-252

LQ-TS-50

LQ-TS-80

LQ-TS-150

LQ-TS-252

■性能

试验方式

气动风门切换2 温室或 3 温室方式

高温室

预热温度范围

60 ～ + 200 ℃

升温速率

RT.→ + 200 ℃　约 3 5 分钟

低温室

预冷温度范围

-55 ～ -10 ℃

-65 ～ -10 ℃

降温速率

+ 20 → -55 ℃ 约 6 0 分钟

＋20 →－ 65 ℃ 约 7 0 分钟

试验室温度范围

-40 － +150 ℃

-55 － +150 ℃

温度偏差

±2 ℃

温度恢复时间

5 分钟以内

恢复条件

高温曝露

低温曝露

高温曝露

低温曝露

150 ℃： 30 分钟

－40 ℃： 30 分钟

150 ℃： 30 分钟

－55 ℃： 30 分钟

※ 1.温度上升和温度下降均为各恒温试验箱单独运转时的性能； 2.恢复条件：室温为＋ 20 ℃。

材料

外壳

纹路处理不锈钢板或冷轧钢板静电喷塑

内体

不锈钢板(SUS304)

绝热

聚氨酯泡沫和玻璃纤维

构

成

高温室

加热器

鳍片式散热管形不锈钢电热器

风机

高温环境温度曝露时共用离心风机,预热用轴流风机

低温室

加热器、冷却器

鳍片式散热管形不锈钢电热器、翅片式冷却器、蓄冷器

风机

离心风机

驱动装置

气动气缸

高温、环境温度、低温曝露时的各个风门驱动用

空气压缩机

提供驱动气动风门的压缩空气(选件)

制冷机组

制冷方式

机械压缩二元复迭制冷

压缩机

原装全封闭或半封闭压缩机

制冷剂

环保冷媒R-507/R-23

冷凝器

不锈钢钎焊板式换热器

■半导体冷热冲击试验箱｜半导体冷热冲击试验机温度控制器

操作界面

TFT 彩色 液晶显示触 摸屏,中文菜单提示

程序记忆容量

96 个用户程序(可自行编制、修改)

设定指示范围

时间：1 分钟～ 99 小时 59 分钟,循环： 1 ～ 999 次 循环

分辨率

± 0.1℃

输入

PT100电阻

控制方法

PID 控制

附属功能

定时器、超温保护、传感器上下风选择、停电保护、报警记录、试验曲线记录、试验暂停、程序运行时间显示

■规格

内部尺寸(cm)

D

35

40

50

60

35

40

50

60

W

40

50

60

70

40

50

60

70

H

35

40

50

60

35

40

50

60

外形尺寸(cm)

D

132

147

192

217

132

147

192

217

W

125

135

155

165

125

135

155

165

H

157

150

160

170

157

150

160

170

内容积(升)

50

80

150

250

50

80

150

250

电源

AC 380±10%V 50±0.5 Hz , 三相四线 + 保护地线

功率(kw)

16kw

25kw

30kw

40kw

22kw

30kw

35kw

47kw

试样重量

2.5kg

5kg

10kg

15kg

2.5kg

5kg

10kg

15kg

■标准配置

累计计时器1 个,引线孔( 25×100mm 长圆型孔 箱体左侧面) 1 个,脚轮 6 个,调整脚 4 个

■半导体冷热冲击试验箱｜半导体冷热冲击试验机安全装置

漏电断路器,试验室温度过高、压缩机超压、过低保护器(控制器内置),排气阀,试样电源控制端子,高、低温室超温保护(控制器内置),过热保护,风机热继电器,断水继电器,电动机反转防止继电器,电动机温度开关,压缩空气压力开关,保险丝。