半导体高低温检测设备试验箱 返回列表页

半导体高低温检测设备试验箱也叫led高低温温度冲击箱，用压缩机为主的制冷系统制冷产生低温（也称冷温）及在加热系统中产生的高温（也称热温）中两温度经过控制器操控来回冲击试验led产品或配件，检测其所受的在短时间内经极冷温及极热温的连续循环环境下所能承受的物理变化。

半导体高低温检测设备试验箱的性能参数参考如下：

一、低温冲击可选择温度范围：A-20℃;B-40℃;C:55℃;D:-65℃（厂家还免费配高温至150度）。

二、温度偏差：±2℃。

三、温度波动度：±0.5℃。

四、温度恢复时间：≤5min。

五、温度恢复条件：高温150℃曝露30min低温-20℃曝露30min，高温150℃曝露30min低温-40℃曝露30min，高温150℃曝露30min低温-55℃曝露30min，高温150℃曝露30min低温-65℃曝露30min。

六、温度冲击转移方式：采用气动驱动。  

七、高温室储温的升温时间：30min (+25℃～+200℃)。

八、低温室储温的降温时间：65min (+25℃～-75℃)。

九、低温冲击试验机|低温冲击机|冲击试验机工作时的噪音：（dB）≤65( 标准规定≤65分贝不算噪音）

十、型号             内箱尺寸（mm)             外箱尺寸（mm）           功率（kw)

LQ-TS-49       W360×H350×D400        W1550×H1730×D1440           18.5      

LQ-TS-80       W500×H400×D400        W1650×H1830×D1500           23.0

LQ-TS-150      W600×H500×D500        W1750×H1930×D1570           28.0

LQ-TS-225      W500×H750×D600        W1450×H2100×D1670           34.0

LQ-TS-408      W750×H800×D800        W1550×H2150×D1900           42.0

备注：以上参数如均不符合自家的产品测试条件，可以致电业务员或者联系在线客服下单非标定制，或者上门定制，不收额外费用与成本。与低温冲击试验机|低温冲击机|冲击试验机相关的设备还有高低温冲击试验机、冷热冲击试验机、高低温冲击机、高低温检测冲击试验机、高低温冲击实验机、冷热冲击实验机、冷热冲击检测机、两箱式低温冲击试验机、三箱式低温冲击试验机、等冲击试验机。欢迎广大顾客前来咨询。