详细介绍
有机发光二极管(OLED)寿命测量系统
Ossila OLED寿命系统旨在为OLED寿命测试提供长期和低成本的解决方案。寿命测试是优化你的OLED设备稳定性并最大程度减小退化的必要工具。
Ossila将源测量单元与专门设计的测试板和直观的软件相结合，提供了一个强大和用户友好的OLED寿命测试系统。它可以与8像素和6像素Ossila基片系统兼容，使用户能够轻松地制造和测试OLED器件。本产品免费保修2年。
光电二极管盖子
系统概述
OLED寿命测试系统的主要组件包括一个源测量单元，一个Ossila测试板(手动或自动)和一个特别设计的光电二极管盖。这些都是通过OLED Lifetime软件控制的，这使您的测量更容易，更节省时间。
自动化测试板可以控制一系列开关，这些开关可以在没有用户干预的情况下循环通过像素点。电子元件垂直堆叠，减少了系统的占地面积，减少了实验室空间的浪费。这种小巧的设计使用户可以将寿命测试仪放置在空间有限的地方，如手套箱。
器件被固定在光电二极管盖下的测试板内。该系统利用两个内置的源测量单元(smu)来表征该设备。一个SMU通过测试板进行JV操作，而另一个SMU测量光电二极管电流。测试板和光电二极管通过BNC电缆连接到源测量单元。
请注意，虽然光电二极管的光谱灵敏度与人眼相匹配，但它没有被校准为光度测量，只测量光电流.
部件清单 |
源测量单元 |
复用板测试板/ 6像素推合测试板/ 8像素推合测试板 |
带Centronic OSD50-E眼反应光电二极管的光电二极管盖& 带光学接口的标准盖 |
BNC电缆线 x 2 |
铝箱 |
OLED寿命测量系统软件 + 用户指南 |
直观和高度定制的OLED寿命软件套件执行JV, JVL*和寿命测量。
用户可以执行一个初始JV/JVL扫描以确定LED和光电二极管的工作电流。然后，这些数据被用来选择一个LED或光电二极管电流，在其中开始寿命测量。电压自动调整，以保持LED电流恒定超过所需的测量时间。
JVL和生命周期数据都可以输出到.csv文件，以便于编制文档。
OLED寿命测试软件控制面板
更多信息请参见OLED寿命测量系统软件指南。
*光度测量是相对的，基于测量的光电二极管电流，而不是的。
功能特征
系统类型 | 手动 | 自动 |
±10 V 源区段 | 是 | 是 |
±333 μV 源分辨率 | 是 | 是 |
±100 mA 测量范围 | 是 | 是 |
±10 nA 测量分辨率 | 是 | 是 |
是否包括软件 | 是 | 是 |
IV 曲线测量 | 是 | 是 |
OLED 寿命测量 | 是 | 是 |
适用于S101, S211或S171基片 | 是 | 是 |
自动匹配开关 | 是 | 是 |
多设备寿命测量 | 是 | 是 |
技术规格
电压范围 | ±100 μV to ±10 V |
电流范围 | 10 nm to 100 mA |
基片尺寸 | 20 mm x 15 mm |
基片系统兼容性 | S101, S211, S171 |
外形尺寸 – 手动版 (T2004) | 源测量单元:
|
外形尺寸 – 自动版 (T2005) | 宽: 155 mm |
软件要求
支持的操作系统 | Windows 10 (32-bit or 64-bit) |
显示器分辨率 | 1600 x 900 |
推荐的显示器分辨率 | 1920 x 1080 |
需要的硬盘空间 | 400 MB |
