iEDX-100T镀层测厚仪

技术指标多镀层分析,1～5层

技术指标

多镀层分析,1～5层；

测试精度：0.001 μm；

元素分析范围从铝(Al)到铀(U)；

测量时间：10~30秒；

SDD探测器,能量分辨率为125±5eV；

探测器Be窗0.5mil（12.7μm）；

微焦X射线管50kV/1mA,钼,铑靶（高配微焦钼靶）；

6个准直器及多个滤光片自动切换；

高清CCD摄像头（200万像素）,准确监控位置；

多变量非线性去卷积曲线拟合；

高性能FP/MLSQ分析；

仪器尺寸：450×520×385mm。

图谱界面

软件支持无标样分析；

宽大分析平台和样品腔；

集成了镀层分析界面和合金成份分析界面；

采用多种光谱拟合分析处理技术；

镀层测厚分析可达到0.001μm。

分析报告结果

直接打印分析报告；
报告可转换为PDF,EXCEL格式。