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详细介绍
Planum-3000平面光学元件光谱分析仪
全自动透光率/反射率分析仪
型号：Pla
反射率、透过率测量,偏振光测量,膜性测量。
Planum-3000平面光学元件光谱分析仪-适宜测量范围：棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。
操作软件界面
平面光学元件光谱分析仪的技术参数：
| 型号 | Planum-3000（Ⅰ型） | Planum-3000（Ⅲ型） |
| 探测器 | Sony线形CCD阵列 | Hamamatsu背照式2D-CCD |
| 检测范围 | 380-1000nm | 360-1100nm |
| 波长分辨率 | 1nm | 1nm |
| 信噪比（全信号） | 250:1 | 1000:1 |
| 相对检测误差 | ﹤1%（400-800nm） | ﹤0.2%（400-800nm） |
| 重复定位精度 | ﹤0.005° | |
| 透射测量角度 | 0-80°（小样品0-50°） | |
| 反射测量角度 | 10-80°（可扩展到5°） | |
| 样品尺寸 | ﹥Φ5mm | |
| 单次测量时间 | <1ms | |
| S/P光测量 | 支持 | |
| 其他 | 可自定义打印报告格式,开放式光学材料数据库 | |
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