2024-09-25 11:50:00
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HAST半导体芯片立式偏压老化测试系统,HAST测试系统采用立式结构,便于操作和观察。它利用高温高湿的环境条件,对半导体芯片施加偏置电压,以模拟芯片在长时间使用过程中的老化效应。该系统广泛应用于IC封装、半导体
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