成都中冷低温科技有限公司

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2024-09-25 10:56:19 123
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  • 厂商性质:生产厂家
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  • 所在地区:成都市

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HAST半导体芯片BiasHAST测试系统,微波器件高加速寿命偏压老化测试系统。是一种用于评估微波器件在条件下的性能和可靠性的测试系统。该系统通过施加高加速偏压,模拟微波器件在实际使用中可能遇到的高温、高压等恶劣

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