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HAST半导体芯片立式偏压老化测试系统

参考价 ¥99999
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  • 公司名称成都中冷低温科技有限公司
  • 品       牌其他品牌
  • 型       号
  • 所  在  地成都市
  • 厂商性质生产厂家
  • 更新时间2024/9/9 16:14:52
  • 访问次数108
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成都中冷低温科技有限公司简称中冷公司(CHINACRYO)是一家专注于超低温解决方案的创新型高科技公司,企业通过*、欧盟CE认证。公司主要生产高低温冲击气流仪(热流仪)、超低温制冷机、高低温循环箱、高低温冲击箱、环境模拟仓、老化测试设备等,各种为5G通讯、光模块、集成电路、芯片、航空航天、天文探测、电池包、氢能源等领域的可靠性测试提供整套温度环境解决方案,位于成都总部的技术中心超过3000平方米,在天津、上海、苏州、深圳、武汉、珠海、重庆设有办事机构。公司核心技术团队成员平均行业经验超过12年,超过40%的工程师拥有高级职称,拥有外国企业工作经验工程师超过30%。公司自主研发的高低温冲击气流仪(热流仪)和超低温制冷机具有优势地位,出口欧美及东南亚,在业内有较高的认可度。

低温冷阱机,超低温制冷机,水汽捕集深冷泵,冷热冲击机,高低温循环冲击机,热流仪
产地 国产 产品大小 中型
产品新旧 全新 结构类型 立式
温度范围 +105℃~+150℃
HAST半导体芯片立式偏压老化测试系统,HAST测试系统采用立式结构,便于操作和观察。它利用高温高湿的环境条件,对半导体芯片施加偏置电压,以模拟芯片在长时间使用过程中的老化效应。该系统广泛应用于IC封装、半导体、微电子芯片、磁性材料及其它电子零件的可靠性测试。
HAST半导体芯片立式偏压老化测试系统产品信息

(价格仅供参考,请以实际价格为准

HAST半导体芯片立式偏压老化测试系统

HAST半导体芯片立式偏压老化测试系统,HAST测试系统采用立式结构,便于操作和观察。它利用高温高湿的环境条件,对半导体芯片施加偏置电压,以模拟芯片在长时间使用过程中的老化效应。该系统广泛应用于IC封装、半导体、微电子芯片、磁性材料及其它电子零件的可靠性测试。


HAST半导体芯片立式偏压老化测试系统

HAST半导体芯片立式偏压老化测试系统适用于各种封装形式的射频场效应管、射频功率器件等半导体芯片的可靠性测试。通过该测试,可以评估芯片在高温高湿环境下的性能稳定性、寿命以及潜在的失效模式,为芯片的研发、生产和质量控制提供重要依据。


HAST半导体芯片立式偏压老化测试系统


B-HAST高加速寿命偏压老化测试系统适用于IC封装,半导体,微电子芯片,磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热、等加速寿命信赖性试验,使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的密封性和老化性能。

B-HAST高加速寿命偏压老化测试系统是将被测元件放置于一定的环境温度中,(环境温度依据被测元件规格设定)给被测元件施加一定的偏置电压。同时控制系统实时检测每个材料的漏电流,电压,并根据预先设定,当被测材料实时漏电流超出设定时,自动切断被测材料的电压,可以保护被测元件不被进一步烧毁。












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