产品简介
布鲁克的Dimension XR扫描探针显微镜（SPM）系统攘括了原子力显微镜数十年来的研究和技术创新。通过常规的真原子相分辨率,以及一系列的技术,包括峰值力轻敲模式、数据立方体模式、SECM和AFM-nDMA,Dimesnion XR系统可提供的性能和功能。Dimension XR 系列将这些技术整合提供完整的解决方案,以满足纳米力学、纳米电气和纳米电化学应用的需求。在空气、流体、电气或化学反应环境中对材料和纳米尺度系统的定量研究从未如此简单。
技术优势
1,分辨率成像,轻易分辨DNA小沟结构
2,高宽带,从而快速扫描,观察实时变化,同时具备速度和稳定性
3,潜力无限,极其灵活的开放式架构,全面的环境控制方案,用于电池、有机太阳能等领域
4,获得面的纳米尺度的定量特性参数
5,能够在大气及液体环境下准确地观测样品表面微区（纳米及亚微米尺度）三维形貌
所有模式、所有环境的分辨率
无论是在液体环境中获得样品真原子相,还是在空气中获得样品模量和导电性的原子级分辨率分布,Dimension XR系统在所有测量中都能提供的分辨率。它们使用布鲁克专有的峰值力轻敲技术在各种软硬样品上的性能表征已成为,包括聚合物中的分子缺陷或晶体中的缺陷。同样技术也被用来分辨粗糙玻璃上的精细起伏结构,且具有惊人的稳定性,在数百次扫描后还能保持最初的分辨率。Dimension XR系统将峰值力轻敲模式与稳定性、的探针技术和布鲁克数十年的针尖扫描创新经验相结合,在各种尺寸、重量或介质的样品上,在任何应用中都实现了稳定的分辨率成像。
专有的数据立方体模式
这些模式利用快速力阵列模式在每个像素点中执行力曲线测量,并具有用户定义的停留时间数据采集。使用高速数据捕获功能,在停留期间执行多种电学测量,从而在每个像素上产生电学和力学谱。数据立方体模式在单次测量中提供完整的表征,这在商用AFM中是的。
Dimension XR的数据立方体模式在每个像素上提供多维纳米级信息,在单个测量中同时采集电学和力学特性。
DCUBE-PFM 测量清楚地显示 BiFeO3 薄膜上每个铁电畴在不同电场下的极化翻转。
的峰值力扫描电化学显微镜
（A）布鲁克预装的峰值力轻敲扫描电化学显微镜探针提供了简单、安全的操控性,的稳定性,在数小时成像和多次使用-清洁循环中都能保持分辨率。（B）探针的扫描电镜图像;（C）使用COMSOL模拟的在10mM[Ru(NH3)6]3溶液中的针尖电化学电流分布；（D） 从 50 次连续扫描中挑选的第 1、25 和 50 次循环伏安扫描谱,扫描速率为20 mV/s;（E）长达2小时的恒流测试,以Ag/AgCl为参比电极。（F）模拟（虚线）和实验（实线）获得的接近曲线。C和E图像由 加州理工的C. Xiang和 Y. Chen提供。
具有纳米级空间分辨率的峰值力轻敲扫描探针显微镜重新定义了液体中纳米尺度下电化学过程表征。峰值力轻敲扫描探针电化学显微镜在数量级上显著改善了与传统方法的分辨率。这使得对能源存储系统、腐蚀科学和生物传感器的更全新研究,为单个纳米粒子、纳米相和纳米孔进行新测量打开了大门。只有峰值力轻敲扫描探针电化学显微镜能同时形貌、电化学、电学和力学分布图,并具有纳米尺度的横向分辨率。
应用领域
用AFM拓展您的应用
凭借一整套出色的AFM成像模式,布鲁克能为您每项研究提供适用的 AFM 技术。
基于核心成像模式（接触模式和轻敲模式）,布鲁克提供的全套 AFM测试模式,允许用户探测样品的电学、磁性等丰富性能。布鲁克的全新的峰值力轻敲技术作为一种新的核心成像模式,已被应用到多种测量模式中,能同时提供形貌、电学和力学性能数据。
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