原子力显微镜FM-Nainoview 6800AFM
一、功能特点
1.光机电一体化设计,外形结构简单； 2.扫描探头和样品台集成一体,抗干扰能力强； 3.精密激光检测及探针定位装置,光斑调节简单,操作方便； 4.采用样品趋近探针方式,使针尖垂直于样品扫描； 5.伺服马达手动或自动脉冲控制,驱动样品垂直接近探针,实现扫描区域精确定位； 6.高精度大范围的样品移动装置,可自由移动感兴趣的样品扫描区域； 7.高精度大范围的压电陶瓷扫描器,根据不同精度和扫描范围要求选择； 8.采用伺服马达控制CCD对焦和光学放大； 9.模块化的电子控制系统设计,便于电路的持续改进与维护； 10.集成多种扫描工作模式控制电路,配合软件系统使用。 |
二、友好的软件
1.可观测样品扫描时的表面形貌像、振幅像和相位像
2.具备接触、轻敲、相位、摩擦力、磁力或静电力工作模式
3.多通道图像同步采集显示,实时查看剖面图
4.多种曲线力-间距（F-Z）、频率-RMS（f-RMS)、RMS-间隙（RMS-Z)测量功能
5.可进行扫描区域偏移、剪切功能,任意选择感兴趣的样品区域
6.激光光斑检测系统的实时调整功能
7.针尖共振峰自动和手动搜索功能
8.可任意定义扫描图像的色板功能
9.支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能
10.支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正
11.支持样品图片离线分析与处理功能
三、技术规格
| 名 称 | 参 数 | 名 称 | 参 数 |
| 工作模式 | 接触、轻敲、相位、摩擦力、磁力或静电力 |
扫描角度 | 任意 |
| 样品尺寸 | Φ≤90mm,H≤20mm |
样品移动范围 | 0～20mm |
| *大扫描范围 | 横向50um,纵向5um | 光学放大倍数 | 10X |
| 扫描分辨率 | 横向0.2nm,纵向0.05nm | 光学分辨率 | 1um |
| 扫描速率 | 0.6Hz~4.34Hz | 图像采样点 | 256×256,512×512 |
| 扫描控制 | XY采用18-bit D/A Z采用16-bit D/A |
反馈方式 | DSP数字反馈 |
| 数据采样 | 14-bit A/D、双16-bit A/D 多路同步采样 |
反馈采样速率 | 64.0KHz |
| 仪器重量体积 | 40KG,700´480´450mm | 计算机接口 | USB2.0 |
| 运行环境 | 运行于WindowsXP/7/8操作系统 |
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