C测试仪 3506-10
对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量
● 提高了抗干扰性,在产线的上也能实现高反复精度
● 1kHz、1MHz测量下,低电容的贴片时可稳定测量
● 根据BIN的测定区分容量
基本参数
测量参数 |
C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ) |
测量范围 |
C:0.001fF～15.0000μF |
基本精度 |
(代表值)C:±0.14% rdg.D:±0.0013 |
测量频率 |
1kHz, 1MHz |
测量信号电平 |
500mV, 1V rms |
输出电阻 |
1Ω (在1kHz时2.2 μF以上量程), 20Ω(除上述以外的量程) |
显示 |
LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定) |
测量时间 |
1.5ms：1MHz,2.0 ms：1kHz |
功能 |
BIN分类测量,触发同步输出,测量条件记忆,测量值比较功能,平均值功能, Low-C筛选功能,振动功能,电流检测监视功能,输出电压值监视功能,控制用输入输出(EXT.I/O), RS-232C接口, GP-IB接口 |
电源 |
AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz,40VA |
体积及重量 |
260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg |
附件 |
电源线× 1,电源备用保险丝× 1,使用说明书× 1 |
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