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SpecEl Ellipsometer System

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  • 公司名称广州标旗光电科技发展股份有限公司
  • 品       牌
  • 型       号
  • 所  在  地
  • 厂商性质其他
  • 更新时间2021/8/4 16:40:11
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广州标旗光电科技发展股份有限公司成立于2005年,位于国家*产业开发区广州科学城。在光谱快速检测领域深耕10年,熟悉各种光谱快速检测方案的搭建,为化工、光电、材料、农学、生物等不同领域的客户提供了上百种检测方案,2014年被认定为*。公司拥有强大的研发、销售团队,拥有*的创新能力,2015年荣获广州开发区"瞪羚企业"称号,2016年成功认定为广州市研发机构,2016年顺利通过ISO 9001:2015质量管理体系认证。
标旗在"科技创新,真诚服务"的企业核心价值观的下,不断创新和发展,形成集算法开发、软件开发、硬件开发、光路设计及电路设计为一体的研发体系,标旗团队基于光纤光谱仪的应用,开发了不同应用领域的光谱快速检测仪器,不断沉淀与打造自主品牌——科思凯(Qspec)。目前,标旗已拥有一系列具有核心竞争力的科思凯产品,包括:平面光学元件光谱分析仪、球面光学元件显微检测仪、透过率检测仪、珠宝检测仪、近红外光谱检测仪、全光谱层析扫描仪、非接触光学测厚仪、微量紫外分光光度计、物质分析仪和高功率卤素冷光源等。标旗科思凯系列产品仪器优势显著,具有高效、迅速、准确的特点,将"中国创造"的研发理念与攻关思路融入到每项产品的开发中,实现产品应用与科技进步、市场需求紧密结合,不断突破传统技术,实现产业升级改造,实现理论研究与生产应用的转化,真正将创造力作为公司不断向前发展的核心动力,将中国创造内化于企业发展中。

同时,标旗也是许多科技装备企业在国内的*的代理商和经销商,包括:Ocean Optics光纤光谱仪(华南区总代理),PerkinElmer分析仪器、P&P成像光谱仪。

标旗秉承专业、真诚、贴心的服务宗旨,针对客户的需求,量身定制光谱检测应用方案,帮助客户解决科研和生产中的实际问题,全程提供售前、售中和售后服务。标旗的成长离不开客户的支持,目前,公司积累了丰富的技术和客户资源,积极与高校合作,致力于产学研的成长模式;而且努力为同行业者搭建线上和线下交流平台,向客户学习,更好的服务于客户。

科技的发展日新月异,标旗紧跟科技进步与时代发展的步伐,在光谱快速检测道路上不断前行,臻于至善。

光纤光谱仪,拉曼光谱仪,近红外光谱仪,反射率测试仪
SpecEl Ellipsometer System
SpecEl Ellipsometer System产品信息

The SpecEl-2000-VIS Ellipsometer measures polarized light reflected from the surface of a substrate to determine the thickness and refractive index of the material as a function of wavelength.The SpecEl is controlled via a PC.Measure refractive index, absorbance and thickness with the touch of a button.

All-in-one Accurate System

The SpecEl houses an integrated light source, a spectrometer and two polarizers fixed to 70°.It also includes a PC with a 32-bit Windows operating system.The SpecEl can detect a single layer as thin as 0.1 nm and up to 5 µm thick.In addition, it can provide refractive indices to 0.005°.

The SpecEl is available for Call for Price.

SpecEl Software and "Recipe" Files

In SpecEl Software, you can configure andsave experiment method files for one-step analysis.after creating a "recipe," you can select the recipe to execute the experiment.

Specifications

Wavelength range: 380-780 nm (standard) or 450-900 nm (optional)
Optical resolution: 4.0 nm FWHM
Accuracy: 0.1 nm thickness!0.005% refractive index
Angle of incidence: 70°
Film thickness: 1-5000 nm for single transparent film
Spot size: 2 mm x 4 mm (standard) or 200 µm x 400 µm (optional)
Sampling time: 3-15 seconds (minimum)
Kinetic logging: 3 seconds
Mechanical tolerance (height): +/- 1.5 mm, angle +/- 1.0°
Number of layers: Up to 32 layers
Reference: Not applicable

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